Mikroskop sił atomowych – AFM

Badanie powierzchni

Mikroskop sił atomowych – AFM

Przy zastosowaniu mikroskopu sil atomowych można badać strukturę powierzchni próbek zarówno przewodzących jak i nieprzewodzących w kilku trybach: bezkontaktowym oraz pośrednim.

Sprzężony układ AFM oraz mikroRaman, można wykorzystać do analizy składu oraz struktury (topografii) dokładnie tego samego miejsca na powierzchni próbek jednorodnych jak również heterogenicznych (np. katalizatory strukturalne).

Standardowo, dzięki sprzężeniu otrzymuje się głównie informacje na temat heterogeniczności badanych materiałów, jednak przy zastosowaniu sond pokrytych bądź wykonanych z Au lub Ag możliwe jest uzyskanie wzmocnienia sygnału ramanowskiego (TERS), prowadzącego do przekroczenia limitu dyfrakcyjnego w mikroskopii ramanowskiej.

Mikroskop (Sił Atomowych) XE-100 firmy Park Systems:

Schemat AFM

  • jednostka SPM (wraz ze źródłem światła dla kamery CCD)
  • elektroniczny panel kontrolujący jednostkę
  • komputer służący do komunikacji pomiędzy operatorem a układem

Jednostka SPM jest jednostką motoryczną systemu XE-100, która porusza próbką umieszczoną pod sondą AFM, natomiast panel kontrolujący steruje ruchem jednostki w odpowiedzi na komendy wysyłane przez komputer.

Kręgosłupem XE-100 jest zamocowana na stole optycznym, pionowa, stalowa rama na której instaluje się od góry obiektyw mikroskopu optycznego wraz z kamerą CCD. Na środku ramy umieszczone są prowadnice na których instaluje się głowicę wyposażoną w „Z” skaner, belkę z sondą AFM oraz układ PSPD. Pod głowicą, na dole ramy SPM znajduje się stolik xy wraz z skanerem xy oraz miejscem na próbkę.

XE-100 jest elementem sprzężonego układu AFM/Raman w którym oba mikroskopy połączone są za pomocą specjalnej jednostki sprzęgającej.